高感度の蛍光Ｘ線分析装置　ＳＩＩが発売

エスアイアイ・ナノテクノロジー社（ＳＩＩ、本社・東京都中央区）はこのほど、微小部の微量金属を短時間で高感度測定できる液体窒素不要のエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置を発売した。

蛍光Ｘ線分析装置は、使いやすさや測定スピードが評価され、ＥＵによる電子・電気機器における鉛や水銀などの特定有害物質の使用制限規制であるＲｏＨＳ指令に対応するための部品や製品の受入れ、出荷検査装置として広く導入されている。しかし測定の一層の効率化やより複雑な測定を可能とするニーズが高まっている。

今回発売した装置は、大幅な感度向上により微小部の測定スピードの高速化を実現したもので、従来機種に比べ１０倍以上に感度を向上させた。また、従来は５〜１０ｍｍ程度の比較的大きな分析エリアで行っていた微量有害物質測定を、０．５〜１．２ｍｍ程度の微小エリアでも同等以下の測定時間で実施できるようにした。

線源は空冷式の小型Ｘ線管（５０ｋＶ、１ｍＡ）で、予定価格は１，８００万円（標準仕様）、今年度の販売は２００台を予定しているという。