エスアイアイ　メッキ厚さ等を蛍光Ｘ線で　大型基板対応の膜厚計発売

分析・計測装置を製造・販売するエスアイアイ・ナノテクノロジーは、最大幅６２０ｍｍ、奥行き５２０ｍｍの大型プリント基板に対応できる高性能蛍光Ｘ線膜厚計「ＳＦＴ９５００Ｌ」を発売した（＝写真）。

今回開発された「ＳＦＴ９５００Ｌ」は、大型プリント基板に対応するよう、ステージを幅８４０ｍｍ、奥行き５４０ｍｍ、高さ５０ｍｍと大型化、試料切断をせずにめっき・蒸着等の薄膜測定を可能にした。従来の最大５０倍（同社比）のＸ線強度検出により、薄膜を精度よく測定する。また、メッキ製品の膜厚測定だけでなく、電気・自動車製品等の微小部分で、環境規制物質の定性・定量分析も可能だ。

価格１，９００万円（税別）。問い合わせは営業二部（電話０６―６８７１―８４５３）まで。